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材料结构分析:
  X射线衍射仪是确定未知样品物相组成最常用技术。X射线衍射进行相结构鉴别,区分样品中主要相,次要相,和微量相化合物、元素含量,分析结果还包括物相名称,化学式,晶体系统,晶胞参数晶粒尺寸等信息。使用晶体结构数据库ICSD和材料结构数据库ICDD数据库作为样品结构分析依据,使用Rietveld分析方法可以得到最可靠物相定量分析结果和物相结构完整的信息。


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