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晶粒尺寸测定:
  纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以精确测定纳米粒子的平均粒径。


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