X射线探测器系列化

线性探测器
　　正比探测器、闪烁探测器
　　使用时需要配置单色器，有效去掉Kβ线。
　　最大线性计数：≥5×10⁵CPS
　　能谱分辨率：正比≤25%、闪烁≤50%。

SDD硅漂移探测器
　　使用时不需要配置单色器，最大线性计数：≥1.5×10⁵CPS、能谱分辨率≤200eV，较线性探测器，样品测量速度提高4倍以上，可实现高分辨率X射线衍射测量。

半导体线阵探测器
　　由640个探测器组成的一维半导体陈列探测器，相比传统的闪烁或正比探测器可以提高衍射强度120倍以上，在较短时间内，获取高灵敏度、高分辨率完整的衍射谱图，并且还有非常好的去荧光能力，即使是测量强荧光的样品，一维半导体陈列探测器提供的数据也展示出非常好的信噪比。
　　最大线性计数：≥9×10⁹CPS，能谱分辨率：≤25%；有高计数模式及去除荧光背景两种工作模式。

高速阵列探测器

探测器型号是： MiniPIX 60K 由捷克航空实验室制作，有效面积14×14mm、像素尺寸55µm、像素数量256×256、每个像素计数率大于3×10⁶cps。样品测量速度较常规的正比探测器+单色器提高35倍以上。

半导体阵列探测器Si样品衍射谱图