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X射线探测器系列化

X射线探测器系列化

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线性探测器
  正比探测器、闪烁探测器
  使用时需要配置单色器,有效去掉Kβ线。
  最大线性计数:≥5×105CPS
  能谱分辨率:正比≤25%、闪烁≤50%。

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SDD硅漂移探测器
  使用时不需要配置单色器,最大线性计数:≥1.5×105CPS、能谱分辨率≤200eV,较线性探测器,样品测量速度提高4倍以上,可实现高分辨率X射线衍射测量。

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高速一维半导体探测器
  由256个探测器组成的一维半导体陈列探测器,相比传统的闪烁或正比探测器可以提高衍射强度120倍以上,在较短时间内,获取高灵敏度、高分辨率完整的衍射谱图,并且还有非常好的去荧光能力,即使是测量强荧光的样品,一维半导体陈列探测器提供的数据也展示出非常好的信噪比。
  最大线性计数:≥9×107CPS,能谱分辨率:≤25%;有高计数模式及去除荧光背景两种工作模式。


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